([그림 1-1] 위 세 번째 줄)

(Translater)로 --> (Translator)에 의해

([그림 1-2])

f3.c --> f3.a

(1.3.2절 아래 두 번째 줄)

'데이터 메모리(SRAM)' --> '데이터 메모리'

(p.40 11번째 줄)

[그림 1-10] --> [그림 1-9]

([표 2-7] 레지스터 천이동작)

(RCALL k 레이스터 천이동작 순서 바뀜)

PC ← PC + k + 1      -->      STACK ← PC + 1       
STACK ← PC + 1       -->      SP ← SP - 2
SP ← SP - 2          -->      PC ← PC + k + 1
 
(CALL k 레지스터 천이동작 순서 바뀜)

PC ← k               -->      STACK ← PC + 2      
STACK ← PC + 2       -->      SP ← SP - 2
SP ← SP - 2          -->      PC ← k 
 

((14) 1번째 줄)

단, 이때는 --> 단, JTAG 인터페이스 장치를 사용하는 경우라면

([표 3-12] 위 2번째 줄)

사례 3은  --> 사례 2는

([표 3-12] 위 3번째 줄)

사례 2는  -->  사례 1은

(p.121 비트 XOR 연산자^)

4번째 연산식 (1^1) 결과 1  -->  0

([표 3-16] 번호 2 연산자)

*(간접) &(주소) ! - ++ -- +(부호) - (부호) sizeof  --> * & ! - ++ -- + - sizeof

(번호 1, 2 연산자 한 칸 들여쓰기)

([표 4-1])

심볼 loL의 최대값 16  -->  8

([B] 실험 부품 및 장치)

(스위치 규격) DIP 5 Pin 이상 --> DIP 4극 이상

(저항 규격) 10[Ω], 100[Ω],330[Ω],1[kΩ], 10[kΩ]  -->  330[Ω],1[kΩ]

(저항 수량) 각 1개  --> 각 2개

(p. 153 7번째 줄)

디지털 전압레벨  -->  전압

([표 4-9] 값의 마지막 칸)

0 또는 1  -->  0

(p.153 5번째 줄)

PINx  --> Pxn

([B] 실험 부품 및 장치)

(스위치 규격) DIP 5Pin 이상  -->  DIP 4극 이상  

([C] 실험 부품 및 장치)

(7-세그먼트-LED 규격, 수량 추가)
5101CSR, 공통 캐소드  -->  5101CSR, 공통 캐소드, 5101ASR, 공통 애노드 (수량) 1개

([C] 실험 부품 및 장치)

(스위치 수량) 1개  -->  2개

(부품 추가)
부품명    /규격    / 수량  
-----------------------------
다이오드 / IN4002 /  1개  

([B] 실험 부품 및 장치)

(7-세그먼트 LED 규격) 
공통 캐소드  -->  5101CSR, 공통 캐소드

(표에서 스위치 부품 제거)

(p.209 12번째 줄)

최대 부하  -->  부하,  450[mA]  -->  425[mA]

(19, 20, 21번째 줄)
4.6[V]  -->  4.4[V]

(22번째 줄)
4.6[V]  -->  4.4[V]
450[mA]  -->  425[mA]

((5) 2번째 줄)

reqINT0_10  -->  reqINT0
reqINT1_20  -->  reqINT1

([그림 7-2])

(큰 네모 안에 명칭 삽입)  ATmega128 

(p.281 13번째 줄)

꼭 필요한 약속된 정보를 요청하면  -->  요청하면

(14번째 줄)
발생될 때  -->  발생할 때
알려준다.  -->  상태 기계에 알려준다.

(p.282 5번째 줄)

(문장 제거) CPU를 차지하는 시간이 현저하게 줄어든다.

(p.282 밑에서 2번째 줄)
입력 신호는 조합 논리로  -->  입력 신호는 [그림 7-4]에서 조합 논리로

([표 7-1])

디지털시스템 구성  -->  디지털시스템 구성[그림 7-2]
ATmega128 구성  -->  ATmega128 구성[그림 7-3]
상태 기계 구성  -->  상태 기계 구성[그림 7-4]

(p.287 아래서 4번째 줄)

[그림 7-5]  -->  [그림 7-6]

([프로그램 7-3] 제목)

[그림 7-6]  -->  [그림 7-7]

(자료(변수) 5번째 줄 코드)

(코드 삭제) 
unsigned long t_state = 0;

(p.300아래서 6번째 줄)

상태 A에 진입할 때 갱신된 초 시각 t_state보다 PASS_SEC초를 초과했는지  -->  0이 되었는지

(아래서 4번째 줄)
상태 AtoB로 천이하기 직전 t_state값을 현재의 초 시각인 time_sec로  -->  time_sec를 TRANS_SEC로

([프로그램 7-5] 코드 18~19번째)

(코드 삽입)
else 
 state = B;

(코드 12번째, 26번째 줄 띄지않기)

(외부 장치와 관련된 부품)

(H-브리지 회로 부품)
2N2222A 2개, 2N2907A 2개  -->  2N2222A 2개, 2N2907A 2개, 470[Ω] 저항 4개

([그림 7-22])

[그림 4-24]  -->  [그림 7-24]
[그림 4-25]  -->  [그림 7-25]

([표 7-5] 외부 입력 신호)

장치 신호  -->  조작 신호
조작 신호  -->  장치 신호

([표 7-9] 제목)

에리베이터 호출을 위한 조작 동작과 감지 신호  -->  엘리베이터 호출을 위한 조작

((8) 1번째 줄 )
fool1  -->  f1
fool2  -->  f2

(p.331 맨 마지막 줄)

(1) TCCR0 레지스터의 OCIE0 비트와 TOIE0 비트......

    => TCCR0를 TIMSK로 수정함.

([그림 8-2])

TCNT0  -->  TCNT2

([표 8-8])

내부 클록 ÷ 126  -->  내부 클록 ÷ 128

 

([프로그램 8-2] 제목 수정)

from부터 ms_interval까지의 오버플로 발생 횟수 계산   -->  ms_interval 시간 동안 오버플로 발생 횟수 계산 

([프로그램 8-3] 코드 16번째 줄)

do something();  -->  do_something(); 

(p.349 4번째 줄)

인터럽트가 발생되면  --> 인터럽트가 반복적으로 발생되면

(코드 55번째 줄 주석)

//PD0 출력 반전  -->  //PB7 출력 반전

(코드 59번째 줄 주석)
//PD1 출력 반전  -->  //PB6 출력 반전

([그림 8-10])

COMn0:n1  -->  COMn1:n0

(p.359 마지막 줄~ p.360)

위상정정 PWM은 최소 0부터 최대 255까지 증가한 후 다시 감소한다. 1까지 감소하는 TCNTn은 대칭 구조의 증가, 감소를 반복하는~

--> 위상정정 PWM은 255부터 0까지 감소한 후 다시 증가하여 254까지 증가하는 계수를 반복한다. 감소와 증가를 반복하는~     

([B] 실험 부품 및 장치)

(저항 330[Ω] 수량)
10개  -->  8개

(LED 부품 삭제)

(DC 모터 비고) 
KTX-OPEN GEAR MOTOR(motorbank)  -->KTX-RED(low RPM)

([B] 실험 부품 및 장치)

LED 부품 삭제

(DC 모터 비고)
KTX-OPEN GEAR MOTOR(motorbank)  -->  KTX-RED(low RPM)

([그림 8.18] 아래 2번째 줄)

12~22[msec]의 주기를 갖는  -->  12~20[msec]의 주기를 갖는

((5) 1번째 줄)

10번 라인  -->  9번 라인
0.1489  -->  0.1389

(8.3 1번째 줄)

일정 펄스 이상  -->  일정 폭 이상

(8.7 1번째 줄)

RC 서보모터  -->  8.10절의 RC 서보모터

(p.386 4번째 줄)

프리스케일된 CPU와 클록과 동일한 내부 클록을 사용하거나  -->  프리스케일된 내부 클록을 사용하거나

([표 9-4] 제목 수정)

타이머/카운터0 비교일치 및 인터럽트와 관련된 레지스터 비트

-->  16비트 타이머/ 카운터와 관련된 레지스터 비트

(9.2.1 제목)

비교출력 OCn 신호 출력  --> 비교출력 OCnx 신호 출력

([표 10-5] 레지스터)

ACME  -->  SFIOR

([B] 실험 부품 및 장치)

표를 다음과 같이 수정했습니다.

([그림 10-12] 제목 수정)

실험을 위한 회로  -->  적외선 감지 모듈 회로

([B] 실험 부품 및 장치)

표를 다음과 같이 수정했습니다.

([B] 실험 부품 및 장치)

저항 규격  20[Ω]  -->  30[Ω]

((3) 1번째 줄)

8[MHz]이므로  -->  8[MHz]이면

((4) 2번째 줄)
128[kHz]  -->  125[kHz]

(10.8 제목)

LED  -->  LCD

(p.481 아래서 3번째 줄)

MSB  -->  LSB
왼쪽  -->  오른쪽

(11.2.3 USART 통신 에러 그림)

(세 번째 칸)
UCREn  -->  UDREn

(p.488 위에서 두 번째 그림)

(세 번째 칸)
UCREn  -->  UDREn

([프로그램 11-4] 코드)

(코드 4번째 줄)
RXC0  -->  RXCIE0

(코드 8번째 줄)
RXC1  -->  RXCIE1

(p.499 마지막 줄)

다음과 같은 내용이 추가되었습니다. 

USART 통신에서 폴링을 이용한 문자 송수신은 부록에 있는 usart.h, usart_polling.c를 사용할 수 있고,
인터럽트를 이용한 문자 송수신은 usart.h, usart_interrupt.c(예제 소스 참고)를 사용할 수 있다.

([B] 실험 부품 및 장치)

(비고)
[그림 11-9] 참조  -->  [그림 11-8] 참조

([그림 11-8])

위 그림을 다음과 같이 수정했습니다.

(p. 505 6번째 줄)

4개의 데이터를 전송하고 있다.  -->  5개의 데이터를 전송하고 있다.

[그림 11-12(a)]
4회의 데이터 전송  --> 5개의 데이터 전송

([표 11-16] CPOL 비고)

1: 데이터가 전송될 때 클록은 HIGH로 유지한다.  --> 1: 데이터가 전송되지 않을 때 클록은 HIGH로 유지한다. 

([B] 실험 부품 및 장치)

(수량) 1개  -->  조당 1개

(11.9 문제)

삭제

(p.546 첫 번째 표 아래 1~2번째 줄)

Ph. VR B/D  --> VR B/D

(두 번째 표 위 1번째 줄)

Ph. VR  -->   VR B/D

(p.549 표)

(R2 L1 사이에 행 추가)
번호 또는 부품명 / 부품명     / 규격
--------------------------------------
      Q1        / 트랜지스터 / 2N2222A 


(L1~L4 주의사항)
30분 이상 ON하지 않는다.  -->  오랜 시간 ON하지 않는다. 

(p.568 아래서 3번째 줄)

ATmega128 보드 위쪽으로 작게 보이는 LED는 PA0~PA5에 상태를 출력하는 LED다.

-->  PA0~PA4에 연결된 LED로 현재의 state 값을 127번 라인에서 출력한다.

([프로그램 12-4] 코드 36번째 줄)

sei?;  -->  sei();

([그림 12-37])

위 그림을 다음과 같이 수정했습니다.